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涂鍍層測厚儀的基本原理
涂鍍層測厚儀的基本原理
涂鍍層測厚儀的基本原理 ：渦流涂鍍層測厚儀的基本工作原理是,當測頭與被測式樣接觸時,測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場,使置于測頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù).即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場會改變測頭參數(shù),而測頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測涂鍍層的厚度.
根據(jù)測量原理的分類
超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.
電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩
放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合.國內(nèi)目前使用*為普遍的是第1、2兩種方法.
磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高.涂層測厚儀
渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高，
涂層測厚儀 影響測量精度的原因
覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應(yīng),即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的.
試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測量前應(yīng)**測頭和覆蓋層表面的污物;測量時應(yīng)使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.
